|
РУС | ENG
| |
|
ПоискПослойный анализ углеводородных покрытий на основе спектроскопии отраженных электронов... водород. В данных условиях рост пленок на подложках в основном обеспечивался поступлением на ее поверхность нейтральных радикалов, продуктов разложения этилена. Конечная структура пленок определялась соотношением потоков углерода и атомарного водорода. Скачать статью Изменен: 26.10.2010анализ , углеводородные покрытия , оборудование , конструкционные материалы , кремниевые , подложки , скачать Путь: Главная – Нанотехнологическое общество России / Наука / Библиотека Отсортировано по релевантности | Сортировать по дате |