|
РУС | ENG
| |
|
ПоискМикроструктуры в кремнии с примесью цинка, выявленные с помощью атомно-силовой микроскопии... диффузионного отжига в откаченных ампулах с последующей закалкой, методом наведенного тока в РЭМ были обнаружены протяженные дефекты размером в несколько мкм. Эти дефекты связывались с дислокациями и/или преципитатами цинка, осевшими на них. Позже этот... ... размером около 2мкм. В данной работе для визуализации топографии микроструктуры поверхности такого материала применялся сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ) в режиме атомно-силовой микроскопии (АСМ). Скачать статью Изменен: 03.11.2010кремний , нанокластеры , датчики , дефекты , зондовый микроскоп , скачать Путь: Главная – Нанотехнологическое общество России / Наука / Библиотека Отсортировано по релевантности | Сортировать по дате |