Поиск

Многофункциональный рентгеновский рефлектометр для контроля параметров наноструктур

... М. Сенков Описан измерительный комплекс для исследования наноструктур на базе рентгеновского рефлектометра. Представленное оборудование отличается от приборов аналогичного назначения тем, что его запатентованная рентгенооптическая схема обеспечивает параллельные измерения данных на нескольких спектральных линиях. Скачать статью

Послойный анализ углеводородных покрытий на основе спектроскопии отраженных электронов

... водород. В данных условиях рост пленок на подложках в основном обеспечивался поступлением на ее поверхность нейтральных радикалов, продуктов разложения этилена. Конечная структура пленок определялась соотношением потоков углерода и атомарного водорода. Скачать статью

Отсортировано по релевантности | Сортировать по дате