Регистрация | Забыли свой пароль?

Поиск


 



Многофункциональный рентгеновский рефлектометр для контроля параметров наноструктур

... неразрушающего контроля различных типов наноструктур или матриц, содержащих наноразмерные включения. Режимы относительной рентгеновской рефлектометрии и рефрактометрии впервые предлагаются для практического применения при исследовании и контроле. Используемая замкнутая... ... его запатентованная рентгенооптическая схема обеспечивает параллельные измерения данных на нескольких спектральных линиях. Скачать статью

Изменен: 11.11.2010
наноструктуры , рефлектометр , оборудование , рефлектометрия , рефрактометрия , скачать
Путь: Главная – Нанотехнологическое общество России / Наука / Библиотека

Отсортировано по релевантности | Сортировать по дате