Регистрация | Забыли свой пароль?

Поиск


 



Многофункциональный рентгеновский рефлектометр для контроля параметров наноструктур

А. Г. Турьянский, М. А. Кумахов, Н. Н. Герасименко, И. В. Пиршин, В. М. Сенков Разработанная система обеспечивает уникальное сочетание аналитических возможностей для неразрушающего контроля различных типов наноструктур или матриц, содержащих наноразмерные включения. Режимы относительной рентгеновской рефлектометрии и рефрактометрии впервые предлагаются для практического применения при исследовании и контроле. Используемая замкнутая схема водяного охлаждения и сравнительно малая мощность рентгено

Изменен: 11.11.2010
наноструктуры , рефлектометр , оборудование , рефлектометрия , рефрактометрия , скачать
Путь: Главная – Нанотехнологическое общество России / Наука / Библиотека

Отсортировано по релевантности | Сортировать по дате