|
|
РУС | ENG
| |
 |
|
|
 | |
ПоискПослойный анализ углеводородных покрытий на основе спектроскопии отраженных электронов... водород. В данных условиях рост пленок на подложках в основном обеспечивался поступлением на ее поверхность нейтральных радикалов, продуктов разложения этилена. Конечная структура пленок определялась соотношением потоков углерода и атомарного водорода. Скачать статью Изменен: 26.10.2010анализ , углеводородные покрытия , оборудование , конструкционные материалы , кремниевые , подложки , скачать Путь: Главная – Нанотехнологическое общество России / Наука / Библиотека Отсортировано по релевантности | Сортировать по дате |
   | Все права защищены. При любом использовании материалов портала гиперссылка на ntsr.info обязательна.
© 2009 Нанотехнологическое Общество России |
|