Регистрация | Забыли свой пароль?

Поиск


 



Парад нанотехнологий, часть III. Наноэлектроника и оборудование

... направление для исследования наноструктур разрабатывается на уровне оборудования российской компанией. Так называемая сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ) основана на двух технологических решениях. Парад нанотехнологий, часть II I . Наноэлектроника и оборудование Продолжаем серию статей с кратким обзором технологий, номинированных на получение международной премии в области нанотехнологий RUSNANOPRIZE 2013. В этой части рассмотрим технологии по двум направлениям: - микро- и наноэлектроника - научное...

Изменен: 23.09.2013
нанотехнологии , оборудование , наноэлектроника , светодиоды , технологии , RUSNANOPRIZE , наноструктуры , микроэлектроника , нанолитография , микроскопия
Путь: Главная – Нанотехнологическое общество России / Наука / Обзоры

Современное оборудование для анализа поверхности и наноразмерных структур

... было методов, позволяющих идентифицировать столь незначительные изменения – видели только конечный фактический результат, объяснить причину которого не было возможности. А. А. Шафоростов Компания Intertech Corporation (США) более 20 лет поставляет оборудование и метрологические решения для научно-исследовательских центров, ВУЗовской науки и нужд промышленности. За это время поставлено более 1000 единиц крупного аналитического оборудования на территории Российской Федерации. За время работы на рынке...

Изменен: 23.01.2011
оборудование , анализ , материаловедение , наноструктуры , микроскопия , структура , поверхность
Путь: Главная – Нанотехнологическое общество России / Наука / Библиотека

Многофункциональный рентгеновский рефлектометр для контроля параметров наноструктур

... систему в лаборатории без специальной подготовки помещений. А. Г. Турьянский, М. А. Кумахов, Н. Н. Герасименко, И. В. Пиршин, В. М. Сенков Описан измерительный комплекс для исследования наноструктур на базе рентгеновского рефлектометра. Представленное оборудование отличается от приборов аналогичного назначения тем, что его запатентованная рентгенооптическая схема обеспечивает параллельные измерения данных на нескольких спектральных линиях. Скачать статью

Изменен: 11.11.2010
наноструктуры , рефлектометр , оборудование , рефлектометрия , рефрактометрия , скачать
Путь: Главная – Нанотехнологическое общество России / Наука / Библиотека

Отсортировано по релевантности | Сортировать по дате