Регистрация | Забыли свой пароль?

Поиск


 



О тонкостях работы сканирующей и зондерной микроскопии

... микроскопов при исследованиях образцов на атомном и молекулярном уровнях. Это атомно-силовой, туннельный и ближне-польный оптические микроскопы. Разница в том, что они при сканировании используют разные зонды и получают разные данные о представленном образце. В атомно-силовом микроскопе используется микромеханический зонд - «кантилевер». На его конце находится игла, взаимодействующая с измеряемым образцом. Радиус острия иглы измеряется в нанометрах...

Изменен: 29.09.2010
нанотехнологии , микроскопы , кантилевер , сканирование
Путь: Главная – Нанотехнологическое общество России / Мир нанотехнологий / Популярно о нанотехнологиях

Отсортировано по релевантности | Сортировать по дате