Регистрация | Забыли свой пароль?

Поиск


 



Применение методов ядерного квадрупольного резонанса для исследования полупроводниковых наноматериалов

О. Глотова, И. Корнева, Н. Синявский, К. Корнев В работе представлены данные исследования трех образцов трехкомпонентной системы As-Ge-Se методами 75 As ЯКР-спектроскопии. Эксперимент был выполнен на импульсном Фурье-ЯКР-спектрометре NQS-300 фирмы MBS ELECTRONICS (университет им. А. Мицкевича в Познани) с использованием двухимпульсной последовательности спинового эха Хана. Измерение спектров осуществлялось при 77 K, так как при этой температуре достигается оптимальное соотношение сигнал/шум. П

Изменен: 24.11.2010
наноматериалы , нанотехнологические , полупроводниковые , материалы , спектроскопия , халькогены
Путь: Главная – Нанотехнологическое общество России / Наука / Библиотека

Развитие теоретических основ методов позитронной аннигиляционной спектроскопии для исследования, размеров, концентраций и химического состава нанообъектов в конденсированной фазе

Евгений Петрович Прокопьев ГНЦ РФ Институт теоретической и экспериментальной физики им. А. И. Алиханова, Москва, Россия Показано, что одним из эффективных методов определения размеров цилиндрических нанообъектов свободных объемов пор, полостей, пустот, их концентраций и химического состава в месте аннигиляции в пористых системах и некоторых дефектных материалах (и в большом числе технически важных материалах и наноматериалах) является метод позитронной аннигиляционной спектроскопии (ПАС). Дан кр

Изменен: 22.10.2010
нанообъекты , наноматериалы , спектроскопия , исследования , теоретические основы
Путь: Главная – Нанотехнологическое общество России / Наука / Библиотека

Отсортировано по релевантности | Сортировать по дате