Регистрация | Забыли свой пароль?

Поиск


 



Микроструктуры в кремнии с примесью цинка, выявленные с помощью атомно-силовой микроскопии

... диффузионного отжига в откаченных ампулах с последующей закалкой, методом наведенного тока в РЭМ были обнаружены протяженные дефекты размером в несколько мкм. Эти дефекты связывались с дислокациями и/или преципитатами цинка, осевшими на них. Позже этот... ... микроструктуры поверхности такого материала применялся сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ) в режиме атомно-силовой микроскопии (АСМ). Скачать статью

Изменен: 03.11.2010
кремний , нанокластеры , датчики , дефекты , зондовый микроскоп , скачать
Путь: Главная – Нанотехнологическое общество России / Наука / Библиотека

Отсортировано по релевантности | Сортировать по дате