Регистрация | Забыли свой пароль?

Поиск


 



Микроструктуры в кремнии с примесью цинка, выявленные с помощью атомно-силовой микроскопии

... медицине. О. Н. Макеев, В. В. Привезенцев Ранее в образцах n-Si<Zn>, для которых цинк вводился путем высокотемпературного диффузионного отжига в откаченных ампулах с последующей закалкой, методом наведенного тока в РЭМ были обнаружены протяженные дефекты размером в несколько мкм. Эти дефекты связывались с дислокациями и/или преципитатами цинка, осевшими на них. Позже этот же материал был исследован методом диффузного рассеяния рентгеновских лучей. Были обнаружены дефекты двух типов: сферические...

Изменен: 03.11.2010
кремний , нанокластеры , датчики , дефекты , зондовый микроскоп , скачать
Путь: Главная – Нанотехнологическое общество России / Наука / Библиотека

Сортировать по релевантности | Отсортировано по дате