|
РУС | ENG
| |
|
ПоискМикроструктуры в кремнии с примесью цинка, выявленные с помощью атомно-силовой микроскопии... медицине. О. Н. Макеев, В. В. Привезенцев Ранее в образцах n-Si<Zn>, для которых цинк вводился путем высокотемпературного диффузионного отжига в откаченных ампулах с последующей закалкой, методом наведенного тока в РЭМ были обнаружены протяженные дефекты размером в несколько мкм. Эти дефекты связывались с дислокациями и/или преципитатами цинка, осевшими на них. Позже этот же материал был исследован методом диффузного рассеяния рентгеновских лучей. Были обнаружены дефекты двух типов: сферические... Изменен: 03.11.2010кремний , нанокластеры , датчики , дефекты , зондовый микроскоп , скачать Путь: Главная – Нанотехнологическое общество России / Наука / Библиотека Отсортировано по релевантности | Сортировать по дате |